Рентгеновский дифрактометр TS-XRD-170437

Модель: TS-XRD-170437

 

Применение

Дифрактометр серии AL  предназначен для испытания материалов и анализа промышленных продуктов. Это идеальное сочетание стандартного анализа и измерений специального назначения.

• Данная система представляет собой идеальное сочетание аппаратной и программной частей, что отвечает потребностям ученых и исследователей из разных областей применения. 
• Система угловых измерений с высокоточной дифракцией обеспечивает более точные результаты.
• Высокостабильная система контроля генератора рентгеновского излучения обеспечивает более высокую точность при повторяющихся измерениях.
• Программируемая работа, дизайн конструкции с интегрируемыми узлами, простота работы, элегантный внешний вид . Рентгеновский дифрактометр (РД) – это универсальный испытательный инструмент для получения информации о структуре кристаллов и химическом составе:
• Одно- или несколькофазное определение незнакомого образца
• На известной фазе происходит качественный фазный анализ смешанных образцов
• Структурный анализ кристаллов
• Структура кристаллов меняется при нестандартных условиях (условия высокой температуры, низкой температуры)
• Анализ поверхностной пленки материалов
• Анализ текстуры металлических материалов и стресс-анализ

 

Технические данные

TS-XRD-170437-Y3000
Номинальная мощность	3000 Вт
Напряжение трубки	10 – 60 кВ
Ток трубки	5 – 80 мА
Рентгеновская трубка	Стекляная трубка, керамическая трубка, трубка из шероховатой керамики: Cu, Fe, Co, Cr, Mo и т.д. Мощность: 2000 Вт
Размер области фокусировки	1×10 мм или 0,4×14 мм или 2×12 мм
Стабильность	≤0,01%
Структура гониометра	Горизонтальная (θ~20)
Радиус дифракции	185 мм
Диапазон сканирования	θ~164
Скорость сканирования	0,0012°~70° мин
Макс. скорость вращения	100° мин
Режим сканирования	Связь 0~20, 0, 20 по-отдельности, непрерывное или пошаговое сканирование
Точность повторных угловых измерений	1/1000°
Минимальный шаговый угол	1/1000°
Детектор	Пропорциональные счетчики (ПС)или сцинтиляционные счетчики (СС)
Макс. линейная скорость счета	5×10 подсчетов в секунду (с функцией компенсации выпадающих счетов)
Коэффициент энергетического разрешения	≤25% (ПС), ≤50% (СС)
Режим счета	Диференциальный коэффициент или игтеграл, атоматический анализ амплитуд импульсов, регулирование времени простоя
Стабильность измерения системы	≤0,01%
Доза рассеивающихся лучей	≤1 мкЗв/ч (без устрйства защиты от регнтгеновского излучения)
Совокупная стабильность инструмента	≤0,5%
Внешние размеры	1100×850×1750

 

Описание продукта

Рентгеновский дифрактометр может анализировать природные или синтетические органические или неорганические материалы, широко используется в области глинистых минералов, строительных материалов наподобие цемента, промышленной пыли, химических веществ, фармацевтической продукции, асбестов, скальных пород, исследования полимеров.

• На основании с оптическим дизайном геометрии θ­θ легко готовить образцы и устанавливать различные принадлежности
• Применение металло-керамической рентгеновской трубки значительно улучшает рабочую мощность дифрактометра
• Закрытый пропорциональный счетчик долговечный и не требует техобслуживания ●Силиконовый дрейфовый детектор с наилучшим угловым разрешением  и энергетическим разрешением обеспечивает увеличенную более чем в 3 раза скорость измерений
• Наличие у дифрактометра различных акуссесуаров обеспечивает удовлетворение потребностей, касающихся различных аналитических целей
• Модульный дизайн компонентов по типу «подключи и работай» позволяет оператору точно использовать дифрактометр с соответствующими приспособлениями без необходимости подсчитывания оптической системы.

R-Ray Tube – рентгеновская трубка

Detector - детектор

0-0 goniometer geometry optical image – оптическое изображение геометрии гониометра 0-0

 

Функция измерения данных

• Стандартные симметрические измерения θs ­ θd
• Качественный и количественный анализ
• Структурный анализ кристаллов образца
• Оценка кристаллизации кристалла
• Оценка размера кристаллической решетки и напряжения в решетке

• Измерение асимметрии θs­θd (измерение угла рассеяния при падении света на кристаллическую решетку)
• Качественный и структурный анализ образца пленки/порошка.
• Точный анализ параметров решетки
• Оценка остаточного напряжения/ориентации
• Измерение пленки/плотности

• Измерение с крылом OMG
• Точная оценка статуса кристаллизации образца

Различные функции измерения предназначены для исследования структуры материалов, а для обработки результатов каждого из методов измерений имеется свое отдельное ПО, отвечающее требованиям соответствующего анализа.

Sola slit – одиночная щель

Receiving slit – приемная щель

Divergence slit – щель расходимости

Sample - образец

Scattering slit – щель рассеивания

Detector - детектор

Change - изменение

Rotate - повернуть

Focus method optical system – оптическая система с методом фокусировки

No need readjust optical system – нет необходимости в повторной настройке оптической системы

Parallel beam optical system (thin film optical system) – оптическая система параллельных пучков (оптическая система с тонкой пленкой)

 

Преобразование оптической системы

 

Вы можете по отдельности менять одиночные щели, не отключая блок со щелями. Ввиду этой особенности вы можете произвести преобразование оптической системы фокусировки и горизонтальной оптической системы без перенастройки дифрактометра. Оптическая система с предыдущей фокусировкой и оптическая система параллельных пучков требуют настройки монохроматора с изогнутым кристаллом, после преобразования такой оптической системы она нуждается в корректировке. Нужно просто повернуть кристалл монохроматора на 90° и изменить структуру одиночной щели, после чего аппарат может производить преобразование оптической системы.

 

ПО для обработки данных выполняет следующие функции:

• Основные функции обработки данных (поиск пиков, сглаживание, вычитание фона, подборка формы пиков, увеличение формы пиков, сравнение спектров, Kα1, α2-стриппинг, индексирование дифракционных линий)
• Быстрый количественный анализ нестандартных образцов
• Измерение размера кристаллов
• Структурный анализ кристаллов (измерение и уточнение параметров кристаллической решетки)

0-20 horizontal goniometer – горизонтальный гониометр 0-20

• Измерение и расчет микроскопических напряжений ;
• Двухмерное и трехмерное отображение множественных изображений;
• Анализ кластера изображений дифракционного пика;
• Кривая калибровки ширины полупика дифракционных данных;
• Кривая корректировки углового отклонения отклоняющихся данных;
• Стандартный количественный анализ на основе Rietveld;
• Использование базы данных Международного центра дифракционных данных или базы данных пользователя для проведения фазового качественного анализа;
• Использование базы данных Международного центра дифракционных данных или базы данных ICSD для проведения количественного анализа;

Помимо базовых функций дифрактометры серии DX  могут быстро комплектоваться множеством различных аксессуаров и обладают наилучшими аналитическими возможностями.

Высокоточная совместимость узлов значительно повысила возможность повторяемости результатов при смене узлов, работающих по принципу «подключи и работай». Малые пучки не нуждаются в калибровке, измерение со специальным наведением может осуществляться просто путем выбора нужных аксессуаров из ПО.

 

Многофункциональный образцедержатель

 

С увеличением значимости исследования материалов все больше и больше пластин, массивных материалов и пленок подложки также нуждаются в рентгеновском исследовании характеристик. Для исследования текстуры и проведения микрострессового тестирования, а также исследования структуры поверхности пленок на гониометр можно устанавливать многофункциональный образцедержатель. Функция каждого типа исследования имеет  соответствующее ПО для расчетов.

• Измерение и анализ текстуры на измельчающей вращающейся пластинке (из  алюминия, железа или меди и т.д.)
• Измерение остаточного напряжения металлов, керамики и прочих материалов
• Приоритетная многогранная оценка кристаллов образца пленки
• Ориентационные измерения макромолекулярных составов
• Анализ металлов, многослойной пленки на неметаллической основе, оксидной пленки, нитридной пленки