Измеряемые параметры |
Индуктивность (L), тангенса угла потерь (D), добротности (Q), сопротивление (R, DCR), ёмкость (C), испытание p-n переходов |
Погрешность |
1 |
Электрическое сопротивление (от) |
60 Ом |
Электрическое сопротивление (до) |
20 МОм |
Разрешение (R) |
0,01 Ом |
Электрическая емкость (от) |
600 пФ |
Электрическая емкость (до) |
6 мФ |
Разрешение (C) |
0,1 пФ |
Индуктивность (от) |
600 мкГн |
Индуктивность (до) |
200 Гн |
Разрешение (L) |
0,1 мкГн |
Частота тест сигнала |
100 Гц | 10 кГц |
Диапазон частот |
Фиксированный |
Особенности |
Современный дизайн в форме пинцета для измерения параметров SMD-компонентов (tweezers). Тест сигнал, 4 фиксированных значений частоты, 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц. Возможность измерения электролитических конденсаторов. |
Уровень тест сигнала |
100 мВ | 500 мВ |