Компактные инспекционные микроскопы для исследования и проверки электронных компонент. Возможна интеграция с новой оптикой и устройствами для загрузки плат и компонент.

Данная серия оптимизирована для исследования электронных компонентов, включая магнитные головки и полупроводники, и обеспечивает чистое, высококонтрастное изображение исследуемых компонентов