Описание:

Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

Линейка микроскопов Inspect™ включает два сканирующих электронных микроскопа:

Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом 

Inspect F — сканирующий электронный микроскоп с источником электронов с полевой эмиссией (автоэмиссионный катод Шоттки). 

Inspect S (с вольфрамовым катодом) — имеет высокий и низкий вакуум, идеален для проведения рутинных исследований в промышленных условиях. 

Inspect F (с автоэмиссионным катодом Шоттки) имеет высокий, стабильный ток пучка FEG, необходимый для проведения фундаментальных научных исследований. Прибор подходит для научных лабораторий, для исследований характеристик материалов, для проведения экспертизы и контроля качества материалов.

Данные модели могут быть укомплектованы крио-столами для образцов, детекторам для энергодисперсионного анализа (метод энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии/ EDS/ ЭДРС), детектором для анализа по длине волны (метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны/WDS/ДРСДВ), детектором для анализа с помощью дифракции отраженных электронов (EBSD/ДОЭ).