Описание:

Сверхвысокое разрешение. Неразрушающая 3D-визуализация.

Революционная система UltraXRM-L200 объединяет лабораторный источник рентгеновского излучения с высокой плотностью потока и запатентованную систему рентгеновской оптики, что дает возможность в лабораторных условиях использовать микроскоп в качестве сканера для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения. Неразрушающая визуализация с использованием рентгеновских лучей позволяет получать подробные трехмерные изображения внутренней структуры исследуемых объектов без необходимости в их резке или приготовлении срезов. Система UltraXRM-L200 позволяет получить представление о микроструктурах и микропроцессах с разрешением 50 нм, что ранее было не доступно с помощью обычных рентгеновских технологий.

Использование рентгеновского излучения с энергией 8 кэВ позволяет UltraXRM-L200 исследовать текстуры и материалы в их естественном состоянии. Интегрированная технология фазового контраста, основанная на методе Цернике, повышает различимость границ зерен и границ раздела материалов при относительно низком контрасте показателей поглощения.

Преимущества:

• Неразрушающая система трехмерной визуализации с помощью рентгеновского излучения позволяет получать повторные изображения одного и того же образца при различных условиях
• Большое рабочее расстояние и атмосферная среда в камере позволяют проводить in situ исследования
• Автоматическая регулировка и юстировка при получении изображения для реконструкции томограммы
• Переключаемое поле зрения в диапазоне от 15 до 60 мкм
• Визуализация происходит в режиме фазового контраста Цернике или режиме поглощения
   

Характеристики:

• Диапазон напряжений 20 – 40 кВ
• Максимальная мощность1.2 кВ
• Энергия излучаемых фотонов 8 кэВ