Характеристики и описание
- Производитель
- Страна производительЯпония
- СостояниеНовое
Описание
Мультифотонный исследовательский микроскоп Nikon A1 MP+/A1R MP+ предназначен для визуализации объектов и структур, расположенных глубоко в тканях, и работы с живыми объектами.
Двухфотонная (мультифотонная) микроскопия – один из вариантов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии. В случае мультифотонной микроскопии возбуждение флуорохромов происходит за счёт использования лазерного излучения инфракрасного или длинноволнового видимого диапазона, в месте фокусировки на образце плотность излучения удваивается или даже утраивается.
Флуорофоры изучаемого образца в мультифотонном микроскопе Nikon возбуждаются двумя или тремя длинноволновыми фотонами. Это воздействие эквивалентно возбуждению под действием одного коротковолнового фотона. Например, возбуждение двумя или тремя фотонами с длиной волны 900 нм соответствует возбуждению одним фотоном с длиной волны 450 или 300 нм. Мультифотонная микроскопия Nikon даёт возможность более глубокого проникновения в толщу тканей. Поскольку флуоресцентное возбуждение происходит строго в фокальной плоскости, в случае использования мультифотонного микроскопа Nikon не нужна конфокальная микродиафрагма.
Эксклюзивный резонансный мультифотонный сканер Nikon позволяет регистрировать изображения больших площадей со скоростью до 420 кадров в секунду. Это самая высокая скорость в мире для лазерного сканирования. NDD-детектор для мультфотонной микроскопии позволяет быстро получать изображения из глубины самых толстых образцов. NDD-детектор – это приемник, не требующий десканирования. В отличие от конфокальных методов, где испускаемый образцом свет, проходящий через точечное отверстие (пинхол), перед попаданием на приемник десканируется, в мультифотонной модели A1R MP+ такое отверстие не требуется. Располагая NDD-детектор ближе к задней апертуре объектива, можно собирать большее количество флуоресцентных фотонов, что увеличивает чувствительность модуля. Система оптического попиксельного тактирования Nikon позволяет регистрировать изображения с более высокой стабильностью и при более равномерном освещении даже на высоких скоростях.
Кроме спектральной детекции и разделения с помощью 32-канального детектора в системе реализована функция разделения с помощью 4-канального не требующего десканирования детектора для мультифотонной микроскопии. Полученные с помощью резонансного сканера изображения могут быть разделены, так что можно со сверхвысокой скоростью регистрировать четкие и высококонтрастные изображения областей глубоко внутри толстых образцов.
При изменении длины волны лазера, используемого для формирования изображения в мультифотонном методе, или предкомпенсации дисперсии групповой скорости луч может смещаться, что приводит к неравномерной яркости изображений или к их небольшому сдвигу относительно флуоресцентных изображений, получаемых с помощью лазера видимого диапазона и мультифотонного лазера.
Так как излучение лазера, используемого для мультифотонного метода, невидимо для человеческого глаза, юстировка лазерного луча всегда была сложным и потенциально опасным для пользователей процессом, особенно при длинах волн более 800 нм. Благодаря новой функции автоматической юстировки лазера в модели A1R MP коррекция выполняется автоматически одним нажатием кнопки.
Технические характеристики
|
Модель микроскопа |
A1 MP+ |
A1R MP+ |
|
|
Порты ввода/вывода |
3 входных порта для лазеров 4 выходных порта для стандартного 4-х канального детектора, спектрального детектора, модуля VAAS (поставляется опционально), для детектора стороннего производителя (для приложений FCS/FCCS/FLIM) |
||
|
ИК лазеры |
Совместимые лазеры |
Mai Tai HP/eHP DeepSee (Newport Corp.) Chameleon Vision II (Coherent Inc.) |
|
|
Модуляция |
Метод: АОМ |
||
|
Оптический диапазон |
700-1 000 нм, автоматическое выравнивание |
||
|
Лазеры для конфокальной микроскопии (опция) |
Совместимые лазеры |
405 нм, 440/445 нм, 488 нм, 561/594 нм, 638/640 нм, Ar лазер (457 нм, 488 нм, 514 нм), He-Ne лазер (543 нм) |
|
|
Модуляция |
Метод: AOTF или AOM |
||
|
Лазерный модуль |
Для 4-х лазеров или для 3-х лазеров |
||
|
NDD-детектор для мультифотонной микроскопии |
Диапазон длин волн |
400-650 нм |
|
|
Детектор |
4 ФЭУ |
||
|
Кубики фильтров |
Стандартные, используемые для микроскопа. Рекомендованный набор: 492SP, 525/50, 575/25, 629/53, DM458, DM495, DM511, DM560, DM593 |
||
|
Тип детектора |
NDD-детектор отраженного света (для микроскопов Ni-E/FN-1/Ti-E) NDD-детектор проходящего света (для микроскопа Ni-E/) GaAsP NDD-детектор отраженного света (для микроскопа FN-1) |
||
|
Стандартный флуоресцентный детектор (опция) |
Диапазон длин волн |
400-750 нм (400-650 нм для мультифотонных наблюдений) |
|
|
Детектор |
4 ФЭУ |
||
|
Кубики фильтров |
Стандартные, используемые для микроскопа. Рекомендованный набор для мультифотонных/конфокальных наблюдений: 450/50, 482/35, 515/30, 525/50, 540/30, 550/49, 585/65, 595/50, 700/75 |
||
|
Детектор проходящего света (опция) |
Диапазон длин волн |
440-645 нм |
|
|
Детектор |
1 ФЭУ |
||
|
FOV |
Квадрат, вписанный в круг 18 мм |
||
|
Глубина изображения |
4 096 оттенков серого (12 бит) |
||
|
Сканер |
Стандартный захват изображения |
Сканер: гальвано сканер х 2 Разрешение: 4 096х4 096 пикселей
Скорость сканирования в стандартном режиме: 4 кадр./с (512х512 пикселей, в двух направлениях), 24 кадр./с (512х32 пикселей, в двух направлениях), Зум 1-1000х
Скорость сканирования в быстром режиме*: 10 кадр./с (512х512 пикселей, в двух направлениях), 130 кадр./с (512х32 пикселей, в двух направлениях), Зум: 8-1000х
Режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z, вращение XY, free line
* - данный режим не доступен для функций: вращение, free line, CROP, ROI, а также при использовании спектрального детектора и экспериментов со стимуляцией, CLEM и FLIM |
|
|
Высокоскоростной захват изображения |
- |
Сканер: резонансный сканер (по оси X, резонансная частота 7.8 кГц), гальвано сканер (по оси Y)
Разрешение: 512х512 пикселей Скорость сканирования: 30 кадр./с (512х512 пикселей) до 420 кадр./с (512х32 пикселей), 15600 линий/с (линейная скорость)
Зум: 7-ми ступенчатый (1х, 1.5х, 2х, 3х, 4х, 6х, 8х)
Режим сканирования: X-Y, X-T, X-Z
Режим захвата изображения: стандартный, высокоскоростной, одновременная фотоактивация и захват изображения |
|
|
Дихроичное зеркало |
Метод малого угла падения луча Позиций: 8 Стандартные фильтры: 405/488, 405/488/561, 405/488/561/638, 400-457/514/IR, 405/488/543/638, BS20/80, IR, 405/488/561/IR |
||
|
Pinhole |
12-256 мкм, плавно изменяемая |
||
|
Спектральный детектор (гальвано сканер) (опция) |
Диапазон детектируемых длин волн |
400-750 нм (400-650нм при мультифотонном режиме) |
|
|
Число каналов |
32 канала |
||
|
Скорость сканирования |
4 кадр./с (256х256 пикселей), 1000 линий/с |
||
|
Спектральное разрешение |
80 нм (2.5 нм), 192 нм (6 нм), 320 нм (10 нм) Шаг варьирования длины волны: 0.25 нм |
||
|
Режим unmixing |
Высокоскоростной, точный |
||
|
Совместимые микроскопы |
Инвертированный исследовательский микроскоп: Nikon Eclipse Ti-E
Прямые исследовательские микроскопы: Nikon Eclipse Ni-E (с фокусировкой столиком/с фокусировкой револьвером объективов)
Микроскоп для электрофизиологии с фиксированным столиком: Nikon Eclipse FN-1 |
||
|
Шаг по Z |
Ti-E: 0.025 мкм, FN1: 0.05 мкм, Ni-E: 0.025 мкм |
||
|
Опциональные функции |
Моторизированный XY столик (для Ti-E/Ni-E) |
||
|
Программное обеспечение |
Отображение/захват изображений |
2D анализ, объемный 3D рендеринг/ортогональный, 4D анализ, функция unmixing в спектральном режиме |
|
|
Формат изображений |
JP2, JPG, TIFF, BMP, GIF, PNG, ND2, JFF, JFT, AVI, ICS/IDS |
||
|
Приложения |
FRAT, FLIP, FRET, фотоактивация, колокализация, трехмерные эксперименты time-lapse, мультиточечные эксперименты time-lapse |
||
|
Антивибрационный стол |
Рекомендованный размер 1 800х1 500 мм |
||
Доставка
Оплата и гарантии