Описание:

Универсальный микроскоп для анализа наносистем

Серия F20 микроскопов Tecnai G2 представляет надежные и проверенные (С)ПЭМ с уникальным пользовательским интерфейсом, направленным на решение научных задач. Дополнительные устройства, которые могут быть установлены, смогут быть без труда встроены в интерфейс, то есть оператор сможет применять все функции микроскопа, используя один согласованный интерфейс. Это позволяет операторам, имеющим разный опыт работы, легко контролировать все системы микроскопа.

Микроскоп Tecnai с полевой эмиссией является вершиной технической мысли среди электронно-оптических конструкций. Он предоставляет наилучшее разрешение, стабильность при перемещении образца, а также гибкость в различных ситуациях. Тип объектива, используемый в серии Tecnai G2 F20, позволяет выбрать оптимальное сочетание наклона и разрешения и аналитические параметры, подходящие для вашей задачи.

Серия F20 позволяет использовать высокое напряжение, которое может колебаться от 200 кВ до любого нужного значения, выбираемого одним щелчком мышки. Микроскопы позволяют проводить визуализацию с использованием соответствующей колонны\GIF в любом режиме (ПЭМ, СПЭМ) при любом предварительно заданном напряжении. Как правило, в стандартной сборке ПЭМ\GIF предусматривает два значения напряжения. Однако по желанию могут быть  добавлены и другие установки для напряжения.

Неограниченное количество предустановок пользователей (включая настройку полевого эмиттера) могут быть сохранены в ПО, обслуживающем микроскоп. Это позволяет быстро выбрать и оптимизировать микроскоп для различных пользователей. ПК осуществляет полный контроль над всеми функциями микроскопа через специальный сервис, с которому можно подключиться удаленно, что удобно использовать для дистанционной диагностики. Смена режимов в микроскопе очень проста, переход от ПЭМ-изображения с высоким разрешением к СПЭМ-визуализации происходит за несколько секунд.

Серия микроскопов Tecnai кроме того имеет очень большой выбор программного обеспечения, разработанного компанией FEI, например, программа для автоматического восстановления фокуса (TrueImage), программа автоматизированной томографии (Xplore 3DTM), а также программа, предусматривающая слабое облучение, предназначенная для работы с радиационно-нестойкими образцами. С использованием монохроматора энергетическое разрешение составляет 0.15 эВ, что до сих пор было возможно только на синхротронных источниках, а теперь используется в повседневном изучении тонкой структуры спектров характеристических потерь энергии электронов.

Компьютеризованный предметный столик позволяет получить:

• высочайшее разрешение для томографии
• максимизированный наклон
• максимальную стабильность

Характеристики

• Отличные характеристики формирования изображений в режимах ПЭМ , СПЭМ и наноанализа
• Сверхвысокий вакуум
• Высокая пространственная когерентность благодаря ультрастабильному источнику Шоттки
• Высочайшая стабильность ускоряющего напряжения обеспечивает разброс энергии менее 0.7 эВ
• ускоряющее напряжение до 200 кВ
• Разрешение по точкам0,19 нм
• Информационный предел<0,12 нм
• Разрешение в режиме STEM0,14нм
• Источник электронов20 - 200 кВ
• Увеличение25 x - 1,000 kx (ПЭМ) 150 x - 230 Mx (СПЭМ)