Описание:

Стилусный профилометр Alpha-Step IQ является уникальным сочетанием высокой точности измерений и экономичности. Представленная модель третьего поколения серии Alpha-Step IQ является идеальной для экспериментальных линий производств и изучения новых материалов.

Благодаря высокой повторяемости при измерении вертикальных ступенек на образце (7,5 ангстрем или 0,1% от номинальной величины) и суб-ангстремному разрешению сканирования Alpha-Step IQ позволяет добиваться отличной воспроизводимости измерений и иметь в распоряжении мощные инструменты управления и мониторинга процессов сканирования.

Стилусный профилометр Alpha-Step IQ предоставляет собой двухкоординатную установку для исследования топографии широкого спектра поверхностей в том числе слоистых материалов, микроэлектромеханических систем, керамических материалов,  миниатюрных линз, жестких дисков и дисплеев.

Профилометры представленного поколения имеют в своем арсенале значительно более быстрый и производительный процессор, чем устройства предыдущего поколения, что позволяет применять Alpha-Step IQ для сетевой работы и подключать его через интерфейс USB.

Преимущества:

• Расширенные возможности для анализа 2D топографии;
• Удобная система позиционирования на образце;
• Отличная воспроизводимость результатов исследования;
• Высокая точность определения толщины тонких пленок и покрытий, микронеровностей поверхности, определение несплошности и нарушений регулярности покрытий из тонких пленок;
• Широкий диапазон измерений по вертикали - позволяет проводить исследование поверхности с значительным перепадом высот рельефа - проводить макроанализ поверхности;
• Возможность анализа "по шаблону", предварительно загруженному пользователем;
• Визуализация хода измерений и возможность полного контроля над каждой стадией.

Дополнительные опции:

• Расширение диапазона измерений по вертикали (с 550 мкм до 2 мм) позволяет значительно расширить спектр применений системы Alpha-Step IQ;
• Расширение перечня анализируемых параметров поверхности с 27 до 48, что позволяет получать значительно больше информации о свойствах поверхности;
• Оптическая системы с высоким коэффициентом увеличения позволяет получать изображения анализируемых поверхностей с высоким разрешением и мелким масштабом;
• Цветная видеокамера с цифровым зумом;
• Пакет статистического анализа позволяет осуществлять более тщательный анализ поверхности за счет набора таблиц данных, построения зависимостей параметров и гистограм, а так же других инструментов;
• Программное обеспечение для офлайн анализа данных позволяет увеличить производительность обследования за счет анализа информации на удаленном компьютере и освобождения ресурсов основного компьютера для измерений;
• Программное обеспечение для формирования иллюстрированных отчетов;
• Широкий набор стилусов с различными радиусами закругления наконечников для различных применений.

Основные области применения:

• Исследование толщины поверхностных пленок;
• Определение глубины травления;
• Микроэлектромеханические системы;
• Оптоэлектроника;
• Исследование керамических материалов;
• Промышленная обработка