Описание:

Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.

Оптический профилометр ContourGT-I открывает новый стандарт в поколении профилометров ContourGT, позволяющий улучшить производительность исследовательских работ и увеличить пропускную способность в промышленном применении. ContourGT-I разработан специально, чтобы максимально ускорить и упростить подготовку образца, прибора и сам процесс измерений. Это первый в мире настольный профилометр, в котором все процессы, включая управление объективами,  линзами и освещением полностью автоматизированы, а наклон сканирующей головки обеспечивает гибкость угла измерения, точное и быстрое формирование изображения.

Система освещения с двумя источниками LED, высокая скорость сканирования, высокое разрешение и повторяемость результатов, большой диапазон сканирования по вертикали, наклон сканирующей головки, доступность, простота и широкие возможности программного обеспечения, а также возможность работать с образцами высотой до 150 мм делают ContourGT-I самой полной на сегодняшний день настольной платформой, доступной для анализа и оценки качества поверхностей материалов.

Доступный пользовательский интерфейс ПО и наличие всевозможных опций по анализу полученных изображений превращает рутинную и скучную работу с прибором в интересную и творческую.Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.

 

Дополнительное оборудование

Объективы и линзы поля зрения

К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже.

Камеры

В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер: 

• С разрешением 1280 x 960 пикселей
• Цветная с разрешением 640 x 480 пикселей

 

Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™

NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась

Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.

Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.

Технические характеристики:

Диапазон сканирования по XY	70 х 70 мкм - в турели с объективами   110 х 110 мкм - с адаптером под объектив
Диапазон сканирования по Z	22 мкм
Режимы работы	Статический   Динамический
Уровни шума по вертикали (Z)	0,4 нм в статическом режиме   0,3 нм в динамическом режиме

 

Основание для образцов XY	150 мм моторизованное
Перемещение по Z	100 мм моторизованное
Функция наклона	наклон сканирующей головки на ±5°
Источник света	Два светодиода с большим сроком службы
Матрица камеры	640 x 480  1280 x 960 (опция)  Цветная 640 x 480 (опция)
Объективы	Стандартные: 1x, 2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x  С большим рабочим расстоянием: 1.5х, 2x, 5x, 10x  Для работы с объектами через прозрачные среды: 2x, 5x, 10x, 20x  Светлого поля 10x
Крепление объективов	Адаптер под один объектив   Моторизованная 5-ти позиционная турель
Линзы поля зрения	0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X
Максимальный предел сканирования по вертикали	10 мм
Разрешение по вертикали	<0,08 мм
Повторяемость RMS	0,01 нм
Латеральное разрешение	0,38 мкм  0.13 мкм (с AcuityXR™)  0.01 мкм (с NanoLens™)
Максимальная скорость сканирования	73 мкм/с
Коэффициент отражения образцов	0.05% - 100%
Высота образцов	До 10 см  До 15 см (опция)
ПО	Vision64 на базе Windows 7 64-бит
Калибровка	Калибровочные стандарты
Габариты	452мм x 534мм x 683мм
Вес системы	60 кг

 

По сравнению с наклоном основания, реализованным у ContourGT-K, где для получения изображения нужной области необходима настройка нужного наклона, правильного положения основания и фокусировки (движения X,Y,Z), теперь как бы не менялся угол наклона головки, интересующая область на поверхности всегда остается в поле зрения, что делает процесс получения данных еще проще и быстрее. 
Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм с субнанометровым разрешением.

К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже. 

NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась