Описание:

Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.

ContourGT-X - полностью автоматизированная система со встроенной виброизоляцией. Функция автокалибровки системы в совокупности с высокой скоростью измерений без потери в разрешении, значительно ускоряют процесс измерений, что делает эту систему идеальной для работы с потоком образцов. 

ContourGT-X – самый надежный метрологический инструмент для объемного производства офтальмологических линз, медицинских приборов, полупроводниковых приборов, деталей прецизионной обработки и многого другого.

Особенности:

• Высокоскоростной автофокус, большое разрешение матрицы камеры, большое моторизованное основание для образцов, интегрированная система виброизоляции, доступный расширенный пользовательский интерфейс превращают ContourGT-X в мощный инструмент для контроля качества продукции на различных технологических этапах, а также делают систему незаменимым помощником в центрах коллективного пользования.
• Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм.
• Система автокалибровки обеспечивает аккуратность и воспроизводимость измерений.
• Увеличенная скорость сканирования с вертикальным разрешением на уровне 0,1 Å и c повторяемостью результатов на уровне 0,04 Å (RMS) делают ContourGT-X уникальной системой для экспресс-анализа поверхностей материалов с высочайшей точностью.
• Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.

 

Технические характеристики:

Основание для образцов XY	200 мм моторизованное   300 мм моторизованное (опции)
Перемещение по Z	100 мм моторизованное
Функция наклона	наклон сканирующей головки на ±6°
Источник света	Два светодиода с большим сроком службы
Матрица камеры	640 x 480  1390 x 1040 (опция)  Цветная 640 x 480 (опция)
Объективы	Стандартные: 1x,1.5x,2x,2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x  С большим рабочим расстоянием: 2x, 5x, 10x  Для работы с объектами через прозрачные среды: 2x, 5x, 10x, 20x  Светлого поля 10x
Крепление объективов	Адаптер под один объектив    Моторизованная 5-ти позиционная турель
Линзы поля зрения	0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X
Максимальный предел сканирования по вертикали	10 мм
Разрешение по вертикали	<0,01 нм
Повторяемость RMS	0,004 нм
Латеральное разрешение	0,38 мкм   0.13 мкм (с AcuityXR™)   0.01 мкм (с NanoLens™)
Максимальная скорость сканирования	114 мкм/с
Коэффициент отражения образцов	0.05% - 100%
Высота образцов	До 10 см
ПО	Vision64 на базе Windows 7 64-бит
Калибровка	Автокалибровка, либо калибровочные стандарты
Габариты	852мм x 793мм x 1608мм
Вес системы	493 кг

 

Диапазон сканирования по XY	70 х 70 мкм - в турели с объективами    110 х 110 мкм - с адаптером под объектив
Диапазон сканирования по Z	22 мкм
Режимы работы	Статический    Динамический
Уровни шума по вертикали (Z)	0,4 нм в статическом режиме    0,3 нм в динамическом режиме

 

Дополнительное оборудование

Объективы и линзы поля зрения

К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже.

 

Камеры

В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер: 

• С разрешением 1280 x 960 пикселей
• Цветная с разрешением 640 x 480 пикселей

 

Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™

NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась

Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.

Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.