Описание:

Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.

Оптический микроскоп ContourGT-K отвечает всем современным требованиям, предъявляемым к метрологии поверхности.

Благодаря своему дизайну, отличному соотношению цена/качество, доступному пользователю интерфейсу программного обеспечения и возможности получения трехмерного изображения поверхности за считанные секунды с высочайшим разрешением, данный микроскоп является превосходным решением для всех исследовательских лабораторий и отделов контроля качества продукции у промышленных организаций.

Профилометр ContourGT-K сочетает в себе все последние разработки и новинки в области бесконтактной метрологии поверхностей. Высокая скорость сканирования, низкие шумы, высокое разрешение, система освещения с двумя источниками LED, высокая повторяемость результатов делают этот прибор незаменимым помощником при проведении анализа поверхности материалов и оценке их качества на различных этапах технологического процесса. 

Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм с субнанометровым разрешением.

При работе с образцами довольно часто встречается необходимость в наличии их наклона, для того чтобы выровнять плоскость или снять что-то не стенке объекта. Оптический профилометр Bruker ContourGT-K имеет наклон основания на 6 градусов. Благодаря чему имеется:

• Лучший обзор исследуемого участка поверхности– еще более быстрое получение результатов
• Лучшая воспроизводимость получаемых данных– точнее измерения 

Доступный пользовательский интерфейс ПО и наличие всевозможных опций по анализу полученных изображений превращает рутинную и скучную работу с прибором в интересную и творческую.

Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.

 

Технические характеристики:

Основание для образцов XY	150 мм ручное  150 мм моторизованное
Перемещение по Z	100 мм ручное  100 мм моторизованное
Функция наклона	наклон сканирующей головки на ±6°
Источник света	Два светодиода с большим сроком службы
Матрица камеры	640 x 480  1280 x 960 (опция)  Цветная 640 x 480 (опция)
Объективы	Стандартные: 2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x  С большим рабочим расстоянием: 1.5х, 2x, 5x, 10x  Для работы с объектами через прозрачные среды: 2x, 5x, 10x, 20x  Светлого поля 2.5x,5.0x,10x,50x
Крепление объективов	Адаптер под один объектив   Ручная 5-ти позиционная турель  Моторизованная 5-ти позиционная турель
Линзы поля зрения	0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X
Максимальный предел сканирования по вертикали	10 мм
Разрешение по вертикали	<0,1 нм
Повторяемость RMS	0,01 нм
Латеральное разрешение	0,38 мкм  0.13 мкм (с AcuityXR™)  0.01 мкм (с NanoLens™)
Максимальная скорость сканирования	47 мкм/с
Коэффициент отражения образцов	0.05% - 100%
Высота образцов	До 10 см
ПО	Vision64 на базе Windows 7 64-бит
Калибровка	Калибровочные стандарты
Габариты	492мм x 534мм x 754мм
Вес системы	60 кг

 

Дополнительное оборудование

Объективы и линзы поля зрения

К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже.

 

Камеры

В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер: 

• С разрешением 1280 x 960 пикселей
• Цветная с разрешением 640 x 480 пикселей

 

Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™

NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась

Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.

Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.