Спектральная система с множеством опций и аксессуаров для тестирования фотобиологической безопасности источников света: измерения спектральной энергетической освещенности, яркости.
Испытательные и сертификационные компании, а также производители и потребители светотехнической продукции теперь могут оценить фотобиологическую безопасность ламп и ламповых систем проще, быстрее и с большей точностью, чем когда-либо прежде. Тестирование фотобиологической безопасности в соответствии с международными стандартами требует возможности измерения в широком спектральном диапазоне 200–3000 нм с учетом шести различных типов опасностей для кожи и глаз.
Спектрорадиометр IDR300-PSL от Bentham Instruments обеспечивает выполнение необходимых серий измерений спектральной энергетической освещенности и энергетической яркости, обеспечивая при этом полное соответствие рекомендациям к измерениям. Благодаря полной автоматизации оборудования и подробному руководству по измерениям, произведению расчетов и составлению отчетов, система IDR300-PSL используется в центрах испытаний на фотобиологическую безопасность в лабораториях аккредитации и производителей источников света по всему миру.
Ключевые преимущества системы:
Особенности системы:
Список стандартов:
Регистрируемые параметры:
Параметр | Значения | Ед. измерения | |
---|---|---|---|
Модель и тип монохроматора | IDR300, двойной монохроматор со встроенным пикоампермметром и источником высокого напряжения | - | |
Конфигурация монохроматора | симметричная, Черни-Тернера | - | |
Фокусное расстояние монохроматора | 600 (в диапазоне 200-1100 нм, двойной режим); 300 (в диапазоне 1100-3000, одиночный режим) |
мм | |
Уровень рассеянного света на полуширине 2,5 нм в двойном режиме | 10-8 | - | |
Ширина пропускания | управляется ПО, определяется шириной щели | - | |
Число решеток | 3+2 | шт. | |
Спектральное разрешение | 0,075 (для решетки 2400 штр/мм); 0,3 (для решетки 1200 штр/мм); 0,9 (для решетки 400 штр/мм) |
нм | |
Дисперсия | 0,675 (для решетки 2400 штр/мм); 1,35 (для решетки 1200 штр/мм); 8,1 (для решетки 400 штр/мм) |
нм/мм | |
Точность длины волны | ±0,05 (для решетки 2400 штр/мм); ±0,1 (для решетки 1200 штр/мм); ±0,6 (для решетки 400 штр/мм) |
нм | |
Детектор в диапазоне 200-1400 нм | ФЭУ, Si, InGaAs | - | |
Детектор в диапазоне 1000-3000 нм | PbS | - | |
Оптика для измерения энергетической освещенности в диапазоне 200-1100 нм | Диффузор с коррекцией косинуса, оптический кабель 1 м | - | |
Оптика для измерения энергетической освещенности в диапазоне 1000-3000 нм | Интегрирующая cфера, CaF2 | - | |
Тип профилометра | КМОП-камера | - | |
Стандарт для измерения энергетической освещенности | Кварцевые галогенные и дейтериевые стандарты освещенности, поставляемые с калибровкой, прослеживаемой PTB, Германия | - | |
Стандарт для измерения энергетической яркости | Кварцевые галогенные стандарты и стандарты на базе интегрирующей сферы, поставляемые с калибровкой, прослеживаемой PTB, Германия | мм | |
Измерение освещенности | Фотометрический детектор с виртуальным люксометром | - | |
Интерфейс | USB | - |