Новая "абсолютно точная" система для метрологических исследований с применением КТ (MCT) гарантирует эффективное измерение всей внутренней и внешней геометрии объектов.

Запатентованный микрофокусный источник рентгеновского излучения, оснащенный мишенью отражательного типа, с жидкостным охлаждением, а также кабинет с воздушным охлаждением являются залогом стабильности и долговечности системы метрологических исследований и позволяют системе MCT225 достигать впечатляющих показателей точности. Система метрологических исследований обеспечивает потрясающую точность измерений и позволяет выполнять распознавание малых элементов с целью контроля прецизионных пластмассовых деталей, малых литых заготовок и деталей и узлов сложной формы. 

 

Основные преимущества:

• Результат сочетания 50-летнего опыта работы в сфере координатно-измерительных машин (КИМ) и 25-летнего опыта в сфере рентгеновской компьютерной томографии (КТ)
• Абсолютная погрешность 9 + L/50 мкм в соответствии с VDI/VDE 2630
• Запатентованный микрофокусный источник рентгеновского излучения, разработанный для метрологических исследований с помощью КТ
• Высокоточная мехатроника повышает точность манипуляции образцами
• Простота использования в ручном режиме и автоматизированная последовательность операций
• Мощные визуализация и анализ обеспечивают детальную информацию
• Подходит для широкого спектра вариантов размера образцов и плотности материала 

Метрологические исследования с применением КТ. Неразрушающий 3D-контроль внутренней/внешней геометрии 
 

Метрологические исследования с применением КТ - это сочетание метрологии и рентгеновской компьютерной томографии (КТ). Рентгенография используется для промышленных задач уже давно. При помощи рентгеновской КТ делается ряд двухмерных рентгенограмм образца под различными углами. По мере того, как рентгеновские лучи проходят через образец, регистрируется вся его внешняя и внутренняя геометрия. Используя эти 2D-изображения, программное обеспечение для КТ строит 3D-модель образца. Геометрические характеристики, такие как размер, положение и форма, можно измерять, используя непосредственно саму модель, а также сравнение полученных результатов с CAD-данными, отчеты о срезах и анализ GD&T. 

Технические характеристики системы метрологических исследований: