Описание:

Система тестирования полупроводниковых пластин DAGE 4800 производства компании Nordson изготовлена с применением самых передовых технологий и предназначена для тестирования пластин диаметром от 200 до 450 мм. Несмотря на прогресс в технологии тестирования микросоединений, система спроектирована на основе хорошо зарекомендовавшей себя модели DAGE 4300.
Используя проверенную на практике технологию, реализованную в модели DAGE 4000Plus (самая распространенная модель системы тестирования на рынке), модель 4800 является по-настоящему уникальной системой тестирования полупроводниковых пластин.

Гибкость при создании карты полупроводниковой пластины Программное обеспечение для тестирования DAGE Paragon™ разработки компании Nordson обеспечивает максимальную гибкость при создании карт полупроводниковых пластин, позволяет быстро и точно настраивать тестовые последовательности с их виртуальным отображением для простого и легкого редактирования карт. Полупроводниковую пластину можно отсканировать с помощью уникального встроенного программного обеспечения автоматического создания карт, импортировать карты полупроводниковых пластин с использованием стандартных форматов в отрасли или использовать компьютерную мышь для вызова мастера настройки для программирования какой-либо точки тестирования в любой зоне полупроводниковой пластины.

Успешное тестирование изогнутых и тонких полупроводниковых пластин

Интеллектуальное зажимное приспособление для подъема краев имеет уникальную конструкцию. Его штифты для подъема краев обеспечивают надежную фиксацию изогнутых и тонких полупроводниковых пластин без соскальзывания, а применяемое плавное вакуумное давление обеспечивает оптимальный вакуумный прижим всей полупроводниковой пластины. К ключевым особенностям относят точную систему предварительного выравнивания, встроенную визирную линию камеры выравнивания и встроенную функцию калибровки

Встроенная система обработки и сортировки полупроводниковых пластин

Встроенная система обработки и сортировки полупроводниковых пластин делает модель 4800 полностью автоматизированной системой, обеспечивающей надежность и воспроизводимость в работе. Такая интеграция имеет несколько преимуществ, в том числе автоматическую загрузку изогнутых, тонких или выпуклых тонких полупроводниковых пластин с сухим контактом на полупроводниковой пластине.

Уникальное двойное крепление микроскопа

Усовершенствованная оптика системы тестирования пластин DAGE 4800 в сочетании с двойным креплением микроскопа с подавлением вибраций и регулируемым углом направления взгляда обеспечивают непревзойденную стабильность изображения.

Непревзойденная многофункциональность

Уникальные лидирующие в отрасли многофункциональные картриджи расширяют многофункциональность системы тестирования полупроводниковых пластин DAGE 4800. Доступен ряд многофункциональных картриджей. Свяжитесь с заводом-изготовителем для консультации по вопросу комбинирования преобразователей.

Через окно картриджа оператор может легко определить, какой датчик активен, когда он не используется, в то время как позиция
«Исходное положение» защищает преобразователи внутри картриджа.

Передовые технологии обработки изображений 

Ряд высокопроизводительных систем камер и оптики оптимизирует процесс выравнивания устройством подачи, процесс автоматического программирования и анализ данных после тестирования.