Характеристики и описание
- Производитель
- Страна производительЯпония
Описание
Высокая чувствительность
В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700 / 3700 DUV успешно решает данную проблему.
Это первый спектрофотометр для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона. Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
Измерения в вакуумном УФ
SolidSpec-3700 DUV работает в вакуумном УФ от 165 нм (от 175 нм с интегрирующей сферой) с очень низкими значениями рассеянного света. Оптический блок и кюветное отделение продуваются азотом с целью удаления кислорода, поглощающего в области ниже 190 нм. Спектральный диапазон для измерений с использованием интегрирующей сферы — от 175 нм до 2600 нм.
Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.
Работа с большими образцами
Большое отделение для образцов (900мм x 700мм x 350мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700мм х 560 мм х 40 мм. Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально. Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2. Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом. Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.
Технические характеристики
|
Модель |
Двухлучевой спектрофотометр SolidSpec-3700 |
|
Вес, кг |
170 |
|
Воспроизводимость длины волны, нм |
± 0,08 нм в УФ/видимой области, ± 0,32 нм в ближней ИК области |
|
Детектор |
УФ/видимая область: ФЭУ (типа R928 для SolidSpec-3700, R955 для SolidSpec-3700DUV) Ближняя ИК область: InGaAs фотодиод и охлаждаемый PbS |
|
Дрейф |
SolidSpec-3700, 0,0002 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) SolidSpec-3700DUV, 0,0003 Abs/час (после 2 часов прогрева прибора, 500 нм, постоянная времени 1с) |
|
Источники света |
50 Вт галогенная лампа (2000 часов работы), Дейтериевая лампа (1250 часов работы), Встроенное автоматическое позиционирование ламп |
|
Колебания базовой линии |
± 0,003 Abs (от 240 до 350 нм), ± 0,002 Abs (от 350 до 1600 нм), ± 0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм), ± 0,001 Abs (от 200 до 3000 нм) при использовании DDU |
|
Монохроматор |
Двойной монохроматор с дифракционными решетками |
|
Окружающая влажность |
От 35 до 80% (комн. температура 15 – 30°C), От 35 до 70% (комн. температура 30 – 35°C, без конденсации) |
|
Окружающая температура, °C |
15-35 |
|
Оптическая схема |
Двухлучевая |
|
Переключение ламп |
Автоматическое переключение (можно выбрать в интервале между 282 и 393 нм с шагом 0,1 нм) |
|
Погрешность установки длины волны |
± 0,2 нм в УФ / видимой области, ± 0,8 нм в ближней ИК области |
|
Размеры (ШхГхВ), мм |
1000 x 800 x 1200 |
|
Размеры кюветного отделения (Ш х Г х В), мм |
900 x 700 x 350 мм (Ш х Г х В), Максимальный размер образца 700 х 560 х 40 |
|
Разрешение, нм |
0,1 |
|
Скорость сканирования, нм/мин |
Максимально 3600 нм/ в минуту для ФЭУ и InGaAs-детектора, Максимально 1600 нм/ в минуту для PbS-детектора |
|
Спектральная ширина щели, нм |
8 ступенчатая: 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8 нм в УФ/видимой области, 10 ступенчатая: 0,2; 0,5; 1; 2; 3; 5; 8; 12; 20; 32 нм в ближней ИК области |
|
Спектральный диапазон, нм |
SolidSpec-3700: стандартная модель 240 ~ 2600 нмс использованием приставки для прямого детектирования 190 ~ 3300 нм., SolidSpec-3700DUV: модель для измерения в глубоком УФ 175 ~ 2600 нмс использованием приставки для прямого детектирования 165 ~ 3300 нм |
|
Точность отображения длины волны |
шаг 0,01 нм |
|
Уровень рассеянного излучения |
< 0,00008% (220 нм, NaI), < 0,00005% (340 нм, NaNO2), < 0,0005% (1420 нм, H2O), < 0,005% (2365 нм, CHCl3) |
|
Уровень шума |
0,0002 Abs или менее (500 нм), 0,00005 Abs или менее (1500 нм), щель 8 нм, пост. времени 1 с |
|
Фотометрическая точность |
± 0,002 Abs (0,5 Abs) NIST 930D фильтр, ± 0,003 Abs (1,0 Abs) NIST 930D фильтр |
|
Фотометрический диапазон |
–6 ~ 6 Abs |
|
Шаг по длине волны |
от 0,01 до 5 |
Двухлучевой спектрофотометр Shimadzu SolidSpec-3700
Под заказ
Цену уточняйте
Минск ∙
Доставка
Оплата и гарантии