Описание

Высокочувствительный спектрофотометр для работы в УФ, видимом и ближнем ИК-диапазоне

Особенности

Высокая чувствительность. Компания Shimadzu разработала уникальный спектрофотометр для работы в УФ, видимом и ближнем ИК-диапазоне спектра. Спектрофотометр UV-3600 Plus оснащен тремя детекторами: ФЭУ для работы в ультрафиолетовой и видимой области спектра, полупроводниковый InGaAs и охлаждаемый PbS детекторы для работы в ближнем ИК-диапазоне. Для обычных спектрофотометров, имеющих только два типа детекторов (ФЭУ и PbS), характерна потеря чувствительности в области перехода от видимой области спектра к ИК-диапазону. В случае UV-3600 Plus, благодаря наличию InGaAs детектора, обеспечивается высокая чувствительность во всем рабочем диапазоне, а уровень шума не превышает 0,00003 Abs при 1500 нм. В дополнение к основному блоку спектрофотометра многоцелевое кюветное отделение, предназначенное для работы с образцами больших размеров, а также интегрирующая сфера оснащены тремя детекторами, что позволяет с высокой чувствительностью проводить измерение твердых образцов.
Высокое разрешение, крайне низкий уровень рассеянного света, широкий спектральный диапазон. Высокопроизводительная оптика прибора позволяет достичь ультра-низкого уровня рассеянного света (макс. 0,00005 % при 340 нм) с высоким разрешением (максимальное разрешение: 0,1 нм). Широкий спектральный диапазон от 185 до 3300 нм позволяет работать не только в УФ и видимом диапазонах спектра, но и в ближнем ИК-диапазоне, и как результат, открывает возможности по решению широкого круга задач.

Большой выбор дополнительных аксессуаров. Многофункциональное кюветное отделение с тремя детекторами и интегрирующая сфера позволяют проводить высокочувствительные измерения твердых образцов. Приставки абсолютного зеркального отражения ASR-серии предназначены для получения высокоточных результатов измерения коэффициента отражения. В дополнение ко всему вышеперечисленному, доступны разнообразные держатели для микрокювет и держатели с возможностью регулирования температуры, что позволяет использовать спектрофотометр в разнообразных областях. 

Широкие возможности применения

Измерение коэффициента пропускания объективов и линз. Tакие устройства как мобильные телефоны, цифровые камеры и камеры слежения оснащены разнообразными объективами и линзами. Коэффициент пропускания линзы является одним из факторов, который определяет характеристики объектива. Однако, поскольку линза сама фокусирует свет, то представляет собой очень сложный образец для проведения измерений и получения достоверных результатов.
Наличие у линзы фокальной плоскости приводит к тому, что свет, проходящий в спектрофотометре при измерении базовой линии, может отличаться от света, прошедшего через линзу во время измерения из-за рефракции.
В таких случаях, для более точных измерений рекомендуется работать с интегрирующей сферой, которая позволяет собрать весь свет, проходящий через линзу. Помимо этого, использование интегрирующей сферы, работающей в режиме пропускания, в комплекте с устройством BIS-603, способствует уменьшению ошибок измерений. Кроме того, с помощью V-образной платформы, входящей в стандартную комплектацию многофункционального кюветного отделения MPC-603, можно проводить измерения коэффициента пропускания линз различной длины и размеров. Как результат, MPC-603 и BIS-603 являются идеальным сочетанием для анализа линз и объективов.

 

Определение ширины запрещенной зоны

Исследование солнечных элементов и фотокаталитических материалов зачастую включает в себя измерение ширины запрещенной зоны, которая является одной из основных физических характеристик материалов. Ниже приведены спектры диффузного отражения трех полупроводниковых материалов, используемых при производстве солнечных батарей, полученные с помощью интегрирующей сферы ISR-603. Края поглощения, где длина волны отражения уменьшается, различаются в зависимости от типа образца. Эти различия указывают на разницу ширины запрещенной зоны* образцов. Значения ширины запрещенной зоны образцов рассчитаны с помощью метода Тауца и были определены как 1,63 эВ для GuGaSe2 (красная линия) 1,27 эВ для Culn0.5Ga0.5Se2 (синяя линия) и 0,99 эВ для CuInSe2 (черная линия). 

* Ширина запрещенной зоны представляет собой разность энергий между верхней валентной зоной, заполненной электронами, и дном зоны проводимости, лишенного электронов.Диапазон длин волн спектрофотометра UV-3600 Plus является чрезвычайно эффективным для расчета ширины запрещенной зоны. 
* Образцы любезно предоставлены лабораторией WADA, факультет науки и технологии университета Ryukoku.

Образец	Ширина запрещенной зоны
CuGaSe2	1,63 эВ (757 нм)
Culn0.5Ga0.5Se2	1,27 эВ (977 нм)
CuInSe2	0,99 эВ (1253 нм)

 

Дополнительное программное обеспечение

• ПО DTL-UVPC для измерения пропускания солнечного света
• ПО для измерения цветности
• ПО для измерения толщины пленок

 

Технические характеристики

Оптическая схема	Двухлучевая, двойной монохроматор
Спектральный диапазон	185–3300 нм
Детекторы	УФ/видимый диапазон: ФЭУ
	Ближний ИК-диапазон: InGaAs/охлаждаемый PbS
Ширина щели	УФ/видимый диапазон: 8 ступенчатая; от 0,1 до 8 нм
	Ближний ИК-диапазон: 10 ступенчатая; от 0,2 до 32 нм
Разрешение	0,1 нм
Уровень шума	0,00005 Abs или ниже (500 нм);
	0,00008 Abs или ниже (900 нм);
	0,00003 Abs или ниже (1500 нм)
Уровень рассеянного света	0,00008% (220 нм, NaI); 0,00005% (340 нм, NaNO2);
	0,0005% (1420 нм, H2O); 0,005% (2365 нм, CHCl3)
Фотометрический диапазон	от –6 до +6 Abs
Фотометрическая точность	± 0,003 Abs (при 1 Abs); ± 0,002 Abs (при 0,5 Abs)
Размер кюветного отделения	150*260*140 мм