Описание:

X-tool ‒ это автоматизированный микрозонд для рентгено-электронной спектроскопии (XPS), простой в эксплуатации, но гарантирующий высокую эффективность работы.

Удобный в использовании

Программное обеспечение X-tool поддерживает работу с любым необходимым оборудованием для XPS с помощью простого и интуитивно понятного в управлении сенсорного дисплея. Пользователь может свободно выбирать, как работать с инструментом: от установки ручных настроек, до проведения полностью автоматизированного измерения (автоматический количественный и качественный анализ и создание отчетов). Устройство будет понятно всем ‒ от новичков до опытных пользователей, поэтому его эксплуатация больше не требует специальных навыков или знаний. Планшетный компьютер также делает более удобной рабочую среду.

 

Приступить к выполнению измерения можно всего за 3 шага, все операции от начала измерений до создания отчетов выполняются автоматически.

1.    Загрузите образец
 
Используйте большой держатель образца размерами 75 мм х 75 мм. Он также поддерживает режим пошагового измерения нескольких образцов

2.    Выберите параметры измерений
 
Выбор из готовых программ

3.    Начните измерение

4.    Отчёт об измерении создаётся автоматически
 

 

Автоматические измерения и создание отчётов

Функция выравнивания Auto-Z в точке анализа (высокоскоростная автоматическая регулировка уровня) включает функцию автоматической нейтрализации заряда для изолированного образца материала.

Пользователю необходимо указать только точку измерения, тогда как прибор выполнит все операции, от измерения до анализа образца.

 

Автоматический анализ включает:

• Качественный анализ: обнаружение и идентификация пика
• Количественный анализ: автоматическая настройка диапазона пиков и количественная оценка
• Вычерчивание кривой: вычерчивание кривой по заданному условию
• Отчет: автоматическое создание отчетов на японском языке
• Автоматическое определение функции при измерении широкого спектра

 

Множество возможностей для исследования образцов

X-tool включает в себя три функции: a) визуализация изображения c камеры, b) визуализация изображения с камеры в режиме реального времени, c) визуализация вторичных электронов, индуцированных рентгеновским лучом (SXI: сканирование рентгеновского изображения).

Эти функции помогают пользователю легко устанавливать позиции для проведения измерений вне зависимости от размера образца и его формы.

a)    Визуализация изображения с камеры

Камера может следить за всей поверхностью держателя образца, что идеально подходит для проведения исследований на большой площади и проведения большого количества повторяющихся измерений

b)    Визуализация изображения с камеры в режиме реального времени

 Данный тип удобен для просмотра обесцвеченных участков в микроскопической области

c)    визуализация вторичных электронов, индуцированных рентгеновским лучом

Позволяет обнаруживать загрязнение поверхности в микроскопической области

 

Возможность быстро и легко устанавливать детализированные условия с помощью интуитивно понятной сенсорной панели управления

a)    Окно выбора режимов измерения

При выборе режима можно установить параметры анализа, в том числе особенности материалов и измеряемых объектов

b)    Окно с периодической таблицей для выбора измеряемого элемента 

Пользователь может обозначить пиковую линию и пик Оже фотоэлектронов.

c)    Окно установки для измерения при условиях узкого спектра

В этом окне пользователь может установить такие параметры, как энергия перехода, шаг и накопленное время.

d)    Окно для ввода комментариев

Пользователь может вводить названия файлов или образцов на японском языке

 

Высокоскоростной анализ соответствия

Рентгеновское сканирование и высокочувствительный детектор обеспечивают высокоскоростной анализ в режиме без сканирования. Программное обеспечение (PHI MultiPak) может анализировать изображение химического соответствия с помощью линейного подбора методом наименьших квадратов (LLS).

Следующие изображения являются примерами анализа соответствия органического загрязнения на поверхности органических устройств. (Образцы для анализа обрабатывались программным обеспечение для восстановления данных PHI MultiPak, программным обеспечением для анализа данных)

 

Совершенно новое запатентованное оборудование PHI

Уникальный сканирующий источник рентгеновского излучения (запатентованный) может работать с областями от 20 до 1,4 мм.

Полностью автоматизированная система нейтрализации зарядов (запатентованная) представляет собой систему для одновременного излучения электронов с низкой энергией и ионов аргона для достижения равномерного потенциала поверхностности изолированного образца.

Высокоэффективная аргонная ионная пушка обеспечивает высокоскоростное ионное распыление.