Описание:

Новый MiniFlex 5-го поколения выпускается в двух модификациях. MiniFlex 600 является самым мощным настольным дифрактометром, в то время как MiniFlex 300 является полностью автономной системой, не требующей использования внешней системы водяного охлаждения. Изначально MiniFlex базировался на идее, что можно разработать такой компактный прибор для рентгеновского анализа, который  позволит даже новичку получать такие же надежные результаты, какие получает опытный специалист, который пользуется стандартным большим многоцелевым дифрактометром. Сегодня, когда все стремится к компактности и простоте в применении, MiniFlex обладая этими качествами, продолжает опережать время. Ссылки в многотысячных научных публикациях и более 500 патентах на использование этого прибора cвидетельствуют  о том, что MiniFlex является очень серьезной машиной. MiniFlex – многофункциональный дифрактометр широкого назначения, предназначенный для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. Качественный анализ заключается в идентификации неизвестных веществ (фаз) путем сравнения экспериментальных дифракционных спектров, со спектрами стандартов, содержащихся в базе данных. Количественный анализ позволяет определить относительное содержание отдельных компонентов в смеси, содержащей разные вещества.

Несмотря на размер, настольный дифрактометр MiniFlex включает в себя технологию свойственную для больших и дорогостоящих систем. Компактные размеры и исключительное соотношение цена-производительность позволяют пользователям проводить рентгенофазовый анализ как в лаборатории, так и в полевых условиях — там, где это ранее считалось невозможным. 

 

Технические характеристики:

		MiniFlex 600	MiniFlex 300
Программное обеспечение	Настройка параметров системы	Программы управления и проведения измерений под управлением ОС Windows 7
	Обработка данных	PDXL Базовый пакет
Источник рентгеновского излучения	Мощность трубки	600 Вт	300 ВТ
	Напряжение на трубке	От 20 до 40 кВ	От 20 до 30 кВ
	Ток трубки	От 2 до 15 мА	От 2 до 10 мА
	Заслонка	Заслонка роторного типа с блокировкой
	Материал анода	Cu, Co, Fe, or Cr
Оптика	Фиксированная щель DS (На выходной пучок)	1.25°, 0.625°
	Варьируемые щель DS (выходной пучок)	Используется при углах меньше 67° (2Θ), при больших углах щель DS полностью открыта
	SS (На дифрагированный пучок)	1.25°
	RS (Приемная щель)	0.3 мм
	фильтр	Kβ фильтр
	Монохроматор	Графитовый монохроматор (опция)
	Щель Соллера	Расходимость пучка на выходе 2.5° или 5.0° (опция)
Гониометр	Тип гониометра	Вертикальный
	Радиус гониометра	150 mm
	Диапазон углов сканирования	От -3° до 145° (сканирование зависимое θ-2θ)
	Скорость сканирования	От 0.01° до 100°/мин (2θ)
	Минимальный шаг	0.005° (2θ）
	Разрешение	Не менее 0.02°
Детектор	Сцинтилляционный счетчик Монохроматор	Кристалл NaI (Tl) диаметр входной апертуры 23.0 мм Kβ фильтр / Графитовый монохроматор (опция)
	D/teX Ultra2 (опция)	Кремниевый полосковый детектор
Размеры	Основной шкаф	560 (ширина) x 700 (высота) x 460 (глубина) (мм)	560 (ширина) x 700 (высота) x 530 (глубина) (мм)
	Устройство охлаждения (опция)	460 (ширина) x 570 (высота) x 510 (глубина) (мм)	Не требуется
Вес	Основной шкаф	Приблизительно 80 кг	Приблизительно 90 кг
	Устройство охлаждения (опция)	Приблизительно 50 кг	Не требуется
Электропитание	Основной шкаф	от 100 до 240±10% В (перем.), 1фаза	от 100 до 240±10% В (перем.), 1фаза
		50/60Гц ±1% 1.0 кВт	50/60 Гц ±1% 0.7 кВт
	Компьютер	100 В (перем.) ±10%, 1фаза
		50/60 Гц ±1% 0.7 кВт
	Устройство охлаждения (опция)	100 В ±10% (перем.) 1 фаза	Не требуется
		50/60 Гц ±1%, 1.1 кВт
Охлаждающая вода	Давление	От 0.16 до 0.30 мПа (Давление должно быть стабильным.)
	Расход	От 3.5 до 5.0 л/мин (Расход должен быть стабильным.)
	Температура	От 5 до 25°С (Температура должна быть стабильной.)
Требования к окружающей среде	Температура в помещении	От 15 до 25°С
	Относительная влажность	Не более 65% (отн.) (выпадение росы исключено)

 

Опции:

• 6-ти позиционный автоматический сменщик образцов
• Графитовый монохроматор
• Высокоскоростной кремниевый полосковый детектор
• Держатель образца с функцией защиты от атмосферы
• Дорожный футляр

 

Области применения:

• Качественный фазовый анализ
• Количественный фазовый анализ
• Определение степени кристалличности
• Определение размера кристаллитов и уровня искажений кристаллической решетки
• Уточнение параметров решетки
• Уточнение структуры материала методом Ритвельда
• Определение молекулярной структуры

 

Особенности

• Компактный дизайн и корпус, защищающий от излучения
• Входная изменяющаяся щель
• Простая установка прибора и легкое пользование
• Заводская настройка гониометра
• Управление от портативного компьютера
• Возможность идентификации фаз
• Количественный фазовый анализ
• Определение % кристалличности образца
• Определение размеров кристаллитов и зерен
• Определение и уточнение параметров кристаллической решетки
• Определение параметра Rietveld
• Определение структуры молекул
• 6-позиционная автоматическая подача образцов
• Графитовый монохроматор
• Высокоскоростной кремниевый детектор
• Транспортировочный кейс 

 

Программное обеспечение PDXL (версия 2)

PDXL является полнофункциональным программным пакетом для анализа дифракционных данных порошковых образцов. Модульный дизайн, инновационное программирование, и дружественный пользователю графический интерфейс (GUI) всегда устраивал как неискушенных так квалифицированных пользователей с того момента, когда пакет был выпущен впервые в 2007. PDXLукомплектован различными видами аналитических инструментов, такие как автоматическая идентификация фаз, количественный анализ, анализ размера кристаллитов, уточнение параметров решетки, полнопрофильный Rietveld анализ, первопринципное определение структуры и т.д.

Метод фундаментального параметра (FP-method)

Форма пика в рентгеновской дифрактограмме порошкового образца будет представлять собой дельта-функцию, если измерения выполнены в идеальных условиях. В реальности форма дифракционного пика определяется рядом условий, при которых выполнены измерения: длины волны рентгеновского источника, рентгенооптической системы, размера щелей, размера кристаллитов в образце и так далее. Форма пика, полученная из измерений при реальных условиях может быть описана эмпирической функцией (например псевдо-функцией Войта или функцией Пирсон VII), которая позволит аппроксимировать с хорошим совпадением форму пика. Метод фундаментального параметра (FP-метод) представляет собой метод расчета формы дифракционного пика методом свертки с учетом условий измерений и типом образца.

Идентификация фаз с использованием  COD

Открытая кристаллографическая база (COD) является бесплатной и общественно-доступной базой данных кристаллических структур, опубликованных Международным союзом кристаллографов, Минералогичским Обществом Америки и др. аналогичными организациями. Программное обеспечение PDXL построено как на основе базы COD, так и базы ICDD/PDF-2, что позволяет выполнять автоматическую идентификацию фаз, причем добавление COD подразумевает увеличение возможностей идентификации более чем на 150,000 кристаллических структур.

Помощник для первопринципного анализа кристаллической структуры

Ранее были опубликованы множество примеров первопринципного анализа кристаллических структур на основе рентгеновского дифракционного анализа. Подобное развитие методов анализа прежде всего связано с существенным увеличением скорости обработки данных на персональных компьютерах и повышением эффективности алгоритмов, применяемых в анализе. Пакет программного обеспечения обладает всеми необходимыми возможностями для первопринципного анализа кристаллической структуры, например определения индексов Миллера, типа структуры и т.п. полонопрофильным методом Ритвельда. Теперь «Помощник анализа структуры» в PDXL обеспечит поддержку и необходимые пояснения для пользователей, предпринимающих усилия по сложному анализу, например, структуры органических соединений. Данный помощник особенно будет эффективен для работы начинающих пользователей.

Функция кластеризации

PDXL  позволяет так же объединять данные многократных сканирований по признаку идентичности формы дифракционных рефлексов и  положению пиков, а так же представлять их в сгруппированном виде (дерево каталогов). Данная особенность крайне эффективна, когда необходимо интерпретировать данные множества измерений.