Анализатор D8 DISCOVER — дифрактометр для нанотехнологий.

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру.

D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований.

D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

• Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
• Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
• Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
• Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
• Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
• Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
• Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения