Описание:

Quanta 3D FEG является наиболее универсальным микроскопом высокого разрешения, с низким вакуумом в системе СЭМ/ФИП для 2D и 3D исследований и анализа материалов. Инновационная электронная и ионная оптика в сочетании с уникальным режимом естественной среды расширит возможности вашей лаборатории, обеспечивая более качественную, быструю и более полную характеризацию материалов, анализ и подготовку проб.

Обладая возможностью трех режимов съемки — высокого вакуума, низкого вакуума и режимом естественной среды, микроскоп имеет возможность работать с широким спектром образцов. Quanta 3D FEG имеет инновационный источник излучения электронов, который обеспечивает яркое и четкое  изображение, а увеличение тока электронного пучка улучшает результаты EDS и EBSD анализов. Эта система также имеет возможность для in situ исследования динамического поведения материалов при различных уровнях влажности (до 100% относительной влажности), температуры (до 1500°С) в различном диапазоне давлений.
Беспрецедентно высокий ток ионного пучка в Quanta 3D FEG дает возможность быстрого удаления (травления) материала. Автоматизированная процедура приготовления срезов с помощью ФИП позволяет получать срезы высочайшего качества. Основными в данном микроскопе являются возможности качественного приготовления срезов и превосходная визуализация с помощью ФИП, широкий выбор состава газовой атмосферы для осаждения материалов и дальнейшего повышения скорости травления и селективности ФИП. Quanta 3D FEG предоставляет СЭМ изображение образца во время его травления, что делает микроскоп отличным выбором для быстрой пробоподготовки больших образцов из широкого спектра материалов. Опираясь на многолетний опыт компании FEI в двулучевой технологии, компания представляет вам Quanta 3D FEG – очень мощный и простой в управлении прибор для исследования всевозможных образцов. Мы поможем вам расширить границы своих исследований и получить больше данных из любого образца.

Основные преимущества

• Увеличение возможностей визуализации и анализа: сбор информации с поверхности и из объема
• Минимизация времени получения изображения и анализа: геометрия Quanta 3D FEG позволяет проводить ионное травление и электронную визуализацию в точке пересечения пучков
• Сведение к минимуму времени подготовки образцов
• Использование низкого вакуума и режима естественной среды позволяет получать изображения непроводящих и / или гидратированных образцов
• Увеличение пропускной способности
• Улучшенное приготовление срезов – без повторного осаждения (переосаждения) с помощью специальной газовой атмосферы
• Увеличение возможностей характеризации. Ультранизкий вакуум в камере образца (до 4000 Па) дает возможность снимать характеристики при разных уровнях влажности (до 100% относительной влажности), температуры (до 1500°C) в различном диапазоне давлений

Характеристики

• Ускоряющее напряжение 200 В – 30 кВ
• Увеличение 30 x – 1280 kx
• Разрешение в режиме электронного пучка 1.2 нм при 30 кВ
• Разрешение в режиме ионного пучка 7 нм при 30 кВ