Описание:

EXplorer Aspex FEI — cканирующий электронный микроскоп со встроенным энергодисперсионным анализом для исследований широкого спектра поверхностей и частиц. 

В комплектацию микроскопа входит стандартное программное обеспечение для микроанализа. Если Ваши потребности предполагают расширенный анализ частиц, то ASPEX может предложить программы с более широким спектром исследовательских возможностей:

1. AFA Automated Feature Analysis (Автоматизированный анализ признаков) — быстрый и точный инструмент для определения размеров и количества эллипсоидальных частиц или частиц, имеющих форму, приближенную к эллипсу.

2. CFA Complex Feature Analysis (Комплексный анализ признаков) — автоматическое определение размера и количества частиц, высокая производительность: сотни или тысячи частиц в час без вмешательства оператора; специально оптимизирован для определения частиц сложных и нестандартных форм.

3. MQA ™ Metal Quality Analyzer (Анализатор качества металла) — специализированная SEM / EDS система, которая позволяет осуществлять контроль качества материалов в технологическом процессе, в том числе и на сталелитейных заводах. Простота в использовании предлагаемого программного обеспечения и форма отчетности, которая формируется одним нажатием кнопки, позволяет осуществлять контроль качества стали в автоматическом режиме 24/7.

4. GSR Gun Shot Residue Analysis (Анализ следов выстрела) — программа обеспечивает морфологический и элементный анализ частиц и формирует отчет об исследуемом образце.

Технические характеристики: