Описание:

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп SPM-9700  

Сканирующая зондовая микроскопия-метод исследования формы и локальных свойств поверхности твердого тела.  

SPM-9700 позволяет проводить измерения методами атомно-силовой(AFM), магнитно-силовой(LFM), сканирующей туннельной микроскопии(STM), а также Кельвин-микроскопии (KFM). 
Графический интерфейс в среде Windows обеспечивает полное управление прибором, анализ и документирование результатов.

 

C помощью SPM-9700 можно: 

• получать трехмерное изображение рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз.
• измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра: 

- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность),

- электрических (потенциал, проводимость),

- магнитных (распределение намагниченности).

Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.

 

Технические характеристики

• Разрешение - 0,2 нм по осям X, Y, 0,01 нм по оси Z;
• перемещение детектирующей системы - источник света / оптический рычаг / детектор;
• непрерывное освещение кантилевера лазерным диодом, даже при смене образца;
• фотодетектор;
• сканер с трубчатым пьезоэлектрическим приводом, диапазоны сканирования:

- 30 мкм x 30 мкм x 5 мкм (стандартная комплектация);
- 125 мкм x 125 мкм x 7 мкм (опция);
- 55 мкм x 55 мкм x 13 мкм (опция);
- 2,5 мкм x 2,5 мкм x 0,3 мкм (опция).

• магнитный зажим для фиксации образца;
• механизм скольжения головки со встроенной системой перемещения детектора и кантилевером. Смена образца без удаления кантилевера;
• максимальные размеры образца - 24 мм*8мм;
• полностью автоматический, независимый от толщины образца механизм настройки;
• по оси Z c шаговым двигателем, максимальный ход - 10 мм;
• антивибрационная система, встроенная в блок SPM;
• возможность заменять образцы без удаления держателя кантилевера;
• доступность образца во время измерения;
• высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

 

Стандартные режимы работы: 

• Контактный режим;
• Режим латеральных сил;
• Динамический режим;
• Фазовый режим;
• Режим силовой модуляции;
• Силовая кривая.

 

Опциональные режимы работы:

• Режим проводимости;
• Режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия);
• Магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия);
• Силовое картирование;
• Режим векторного сканирования;
• Режим сканирования в слое жидкости;
• Электрохимическая атомно-силовая микроскопия.

 

Опции для расширения возможностей SPM-9700: 

• Оптический микроскоп с цифровой камерой;
• Волоконно-оптический осветитель;
• Блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования;
• Климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы;
• Программа анализа распределения частиц по размерам.