Описание

SENTERRA II определяет новый уровень спектроскопических характеристик и удобства в классе компактных рамановских микроскопов.

SENTERRA II разработана для обеспечения превосходной чувствительности в сочетании с высокими спектральными и визуальными характеристиками. Поэтому SENTERRA II является мощной платформой для современных исследовательских приложений. Благодаря высокой степени автоматизации, компактным размерам и эффективному рабочему процессу SENTERRA II также является идеальным инструментом для решения реальных задач в лаборатории контроля качества. 

Его беспрецедентная постоянная стабильность оси волнового числа гарантирует точные результаты в любое время. SENTERRA II - это рамановский микроскоп как для многопользовательской среды с высокой ежедневной пропускной способностью, так и для лаборатории, работающей на переднем крае научных исследований.

SENTERRA II подчеркивает:

• Спектроскопические характеристики исследовательского уровня
• Интуитивно понятный и удобный рабочий процесс благодаря программному обеспечению и автоматическому оборудованию
• Непревзойденная точность и точность волнового числа от SureCAL ^TM
• Прямое рамановское изображение
• Компактная конструкция со встроенным в микроскоп спектрометром
• Полный спектральный диапазон со всеми решетками
• Мульти лазерное возбуждение с возможностью быстрого переключения
• Сочетание с технологией FT-Raman для минимизации флуоресценции
• Полностью автоматизированные тесты приборов в соответствии с USP 1120, PhEur 2.2.48, ASTM E1840 и E2529-06
• Полное соответствие GMP / cGMP, GLP и 21 CFRp11
• Версия с открытой архитектурой для изучения больших образцов (например, в искусстве) с высоким боковым разрешением

SENTERRA II позволяет измерять рамановские изображения и объединяет полученную пространственно разрешенную молекулярную информацию с высококачественными микроскопическими изображениями образца. Анализ проводится бесконтактно и без необходимости пробоподготовки. Химические изображения поверхности образца могут быть получены с очень высоким пространственным разрешением вплоть до менее микрона. Кроме того, профилирование по глубине оптически прозрачных образцов позволяет проводить неразрушающее исследование образцов в третьем измерении. Будучи пригодным для обнаружения, распознавания и идентификации органических и неорганических материалов, SENTERRA II имеет широкий спектр применения.

Полимеры

• Идентификация чистых полимеров и смесей

• Анализ многослойных систем
• Характеристика полимеров: кристалличность, плотность, конформация
• Определение содержания мономеров, наполнителей, добавок
• Анализ отказов: выявление примесей и включений

Покрытия и Интерфейсы

• Изучение состава и однородности

Фармацевтическая

• Дифференциация полиморфов

• Визуализация распределения API и вспомогательных веществ в таблетках
• Анализ отказов: идентификация частиц и включений

Материаловедение

• Дифференциация аморфного и микрокристаллического кремния

• Характеристика новых 2D материалов и углеродных нанотрубок

Криминалистика

• Выявление следов улик с мест преступления, таких как волокна, частицы, краски и т. Д.

• Доказательство подлинности произведений искусства
• Анализ поддельных документов, лекарств и денег
• Анализ запрещенных наркотиков

Искусство и культурное наследие

• Идентификация материалов, используемых для предметов искусства

• Дискриминация подлинных и поддельных артефактов
• Изучение сохранения, деградации и старения предметов искусства

Наука о жизни

• Изучение молекулярного состава клеток и тканей

Спектроскопическое исполнение исследовательского уровня

SENTERRA II обеспечивает превосходную чувствительность обнаружения и высокое спектральное разрешение без ущерба для конфокальности.

Для большинства применений требуется не больше, чем стандартная решетка: она покрывает полный спектр комбинационного рассеяния за одно сканирование с разрешением 4 см ^-1 . Для требовательных исследований, таких как изотопное расщепление или полиморфизм, щелчком мыши можно установить дополнительную решетку высокого разрешения.

Интуитивно понятное и безопасное управление

SENTERRA II - это очень удобная и интуитивно понятная система как для обычного пользователя, так и для эксперта. Аппаратное и программное обеспечение образуют тесно взаимосвязанную единицу. 
В то время как оператор руководствуется программным обеспечением через микроаналитический рабочий процесс Рамана, все соответствующие аппаратные адаптации выполняются автоматически.

Непревзойденная точность и точность волнового числа

Для получения точных результатов необходима точная калибровка оси длины волны. Уникальная технология Bruker SureCAL ^TM обеспечивает постоянную и автоматическую калибровку оси длины волны в любое время и без необходимости каких-либо действий пользователя.

Гарантированная надежность

При работе с SENTERRA II вы можете быть уверены, что результаты будут надежными в любое время. Благодаря полностью автоматизированным процедурам тестирования прибора проверка производительности выполняется без потери драгоценного времени на анализ. Во время фактического анализа спектральная точность и точность обеспечивается постоянной и автоматической калибровкой оси длины волны.

Рамановское изображение с удобством

SENTERRA II предоставляет мощные функции конфокальной рамановской визуализации и картирования, которые можно применять прямо, не затрачивая время на выравнивание параметров. Сочетание эффективного сбора данных и высокоточного этапа картирования приводит к субмикронному пространственному разрешению и быстрой генерации комбинационных изображений. Даже рамановские изображения с высоким разрешением могут быть измерены в течение нескольких секунд.

 

 

Преодолеть флуоресценцию

Выбор подходящей линии лазерного возбуждения имеет решающее значение для значимых спектров комбинационного рассеяния без нарушения фоновой флуоресценции. Комбинация SENTERRA II с технологией FT-Raman добавляет 4- ^юлинию возбуждения в ближнем инфракрасном диапазоне при 1064 нм, что сводит к минимуму возникновение нежелательной флуоресценции. Прямой FT-Рамановский микроскоп доступен как RamanScope III.